Рассмотрены методы расчета основных характеристик точечных и линейных дефектов кристаллического строения металлов, дислокационные реакции для металлов с различными решетками, крите...
Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм при определении ориентации кр...
Рассмотрены методы построения стереографических проекций, решение базовых задач кристаллографического анализа структуры материалов с применением сетки Вульфа, а также описание стру...
Изложены основные понятия, относящиеся к науке о строении и свойствах сегнетоэлектрических материалов. Рассмотрены примеры применения и перспективы использования сегнетоэлектрическ...